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HITACHI 镀层分析仪器（X-RAY 膜厚测量仪）

高分辨率单屏幕图文影像显示系统 搭载牛津 OXFORD FP 软件，最多可测量 4 层电镀层各自厚度 高解析度正比氙气 (Xe) 计数器；解析率：4096 通道（2¹²）
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