扭力计

扭力校正器 DI-1M 系列 扭力校正器 DI 系列 扭力校正器 DIS 系列 分离式扭力校正器 NDI 系列扭力校正器

慢速精密切割机

MECCUT LSS

Calibus M 手持式激光诱导击穿光谱仪

Calibus M 基于LIBS技术元素分析的特点, 可用于铍矿石、锂矿石、锂电行业资源回收等 具有优异的Li,Be、B等轻元素分析能力,结合自主研发的PCA、SVR等先进智能机器学习分析算法

HELIUS 300手持式X荧光光谱仪

HELIUS 300手持式X荧光光谱仪选用高性能探测器 广泛应用于合金、土壤和贵金属分析领域

贵金属分析仪

VENTA-贵金属XRF光谱仪 DELTA-贵金属XRF光谱仪

Nikon无损穿透式检测系统

XT V 130C,XT V 160 XT H 160 / 225,XT H 450 MCT225

金相正置显微镜

M-40URT,iMM-6000AXYZ/iMM-6200AXYZRR, M-50P,M-30D,M-40MRT M-60D,M-60DX

湿热试验箱

高低温湿热试验箱 高低温交变湿热试验箱 防锈油脂湿热试验箱

近红外光谱仪

OMNIS 奥秘一代近红外光谱仪 2060 近红外光谱分析仪

XRF 涂镀层厚度测量仪

Bowman XRF G系列 P系列 W系列 Bowman XRF B系列 L系列 A系列 Bowman XRF O系列 M系列 K系列

低倍组织酸蚀装置

LMH-2000,LME-IIS LME-II,LME-III LME-IIIS

温变/冷热冲击试验箱

高低温交变试验箱 快速温度变化试验箱 冷热冲击试验箱,三箱式冷热冲击试验箱

勃氏硬度计

勃氏硬度试验机 TB3100/3100AT 荧幕显示型勃式硬度计 TB-3200/3200AT 勃氏压痕自动读取系统 TB-KDT30A

HELIUS 900手持式X荧光光谱仪

HELIUS 900手持式X荧光光谱仪选用高性能SDD探测器(石墨烯窗口) 广泛应用于合金和土壤分析领域

形状测量激光显微系统

VK-X4000 系列 用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,对各种目标物进行高精度的测量和分析 粗糙度自动分析应用程序

X 射线荧光元素分析仪 XRF

高性价比标准型 高精度高阶系列 移动实验室专业系列
上一页
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
下一页