HITACHI 镀层分析仪器（X-RAY 膜厚测量仪）
高分辨率单屏幕图文影像显示系统搭载牛津 OXFORD FP 软件，最多可测量 4 层电镀层各自厚度高解析度正比氙气 (Xe) 计数器；解析率：4096 通道（2¹²）
火花直读光谱仪
Spark 8000 全谱火花直读光谱仪SparkCCD 7000，SparkCCD 6500 全谱火花直读光谱仪Labspark 1000，Labspark750T 直读光谱仪
